光譜式測量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術提供了zui高精度的亮度、色度測量。現有的光譜式測量的主要不足是需要很長的測試時間。Photo Research的A-TAKT™系列光譜式輻射度計彌補了這一不足，實現了光譜式精度的實時產線測試。

A-TAKT™系列包含三款——高精度，快速測量，針對于低亮測試應用的V-7HS；快速，高光譜分辨率，適用于高亮發(fā)光源的測試的V-7WD；以及經濟、便攜，適用于QC/QA測試的V-6AQL。

所有三款機型都是基于CCD進行探測而不需通過目鏡觀測，同時可調取、使用測試對象的圖像；多光譜帶寬可選（2，5，8nm）；多孔徑光闌可選（1.0°，1.25°，1.50°，0.50°）；物鏡可從定焦50mm到變焦75mm的鏡頭中進行選擇；用戶還可以選擇帶有屏敝罩的特殊的亮度配件用于屏蔽外界雜散光的影響。自帶的1/4-20 SAE螺紋孔使得儀器非常便于安裝和固定。

針對不同測試對象的“EasyProfile"自分析技術確保得到zui快、zui精準的測試結果。

靈活的定制：
針對產線測試環(huán)境的不同（如工作距離、測試區(qū)域和系統控制接口等），A-TAKT™系列提供有不同配置，包括光闌、鏡頭的定制（滿足更多的亮度測試動態(tài)范圍以及不同工作距離、光斑尺寸的測試需求），易于開發(fā)的SDK包可根據不同用戶的ATE系統進行定制等。

操作簡便：
A-TAKT™系列操作簡便，支持通過文本編程通訊協議或SDK進行控制，并與Windows Vista 32或64 bit（或更高版本）及OSX（10.7+）兼容。

通信功能：
A-TAKT™系列可很容易的實現與外界通訊，它配備有USB接口和RS232接口以及加固的附件可增加儀器在惡劣環(huán)境中的使用安全。